프로브카드는 반도체의 동작을 검사하기 위하여 반도체 칩과 테스트 장비를 연결하는 장치로,
프로브 카드에 장착되어 있는 프로브팁이 웨이퍼를 접촉하면서 전기를 보내고, 그때 돌아오는 신호에 따라 불량 반도체 칩을 선별합니다.

Probe Card 사용 공정

• Front End

• Wafer Burn-in TEST

• Electronic
  Die Sort TEST

• Cutting

• Packaging

자사의 프로브카드는 반도체 제조공정중 wafer burn in test, DIE sort test 단계에서 사용됩니다.